Newsletter abonnieren

Sie interessieren Sich für?

Kundenbereich

Die tecmath AG koordiniert das OPAQ-Projekt

Ein optisches Inspektionssystem entdeckt kleinste Oberflächenfehler auf beliebig geformten Oberflächen – damit werden unsichtbare Fehler sichtbar gemacht.

01.12.2001

Die Oberflächenprüfung gewinnt vor dem Hintergrund der Null-Fehler-Forderung bei Produkten zunehmend an Bedeutung. Für die Entwicklung einer neuen Technologie zur Defekterkennung bei Umformungsprozessen wurde jetzt das OPAQ-Projekt ins Leben gerufen. OPAQ steht für Optimierung der Produktionsautomatisierung durch den Einsatz von optischen Inspektionssensorsystemen zur Detektion „unsichtbarer“ Defekte und Integration in das Qualitätsmanagement.

In OPAQ wird ein 3D-Inspektionssystem zur Oberflächenkontrolle entwickelt, das direkt im Umformungsprozess von bspw. Blechen eingesetzt wird und die Qualität an den Prozessgrenzen transparent macht. Fehlerschlupf und exponentiell anwachsende Mehrkosten werden dadurch deutlich reduziert. Das System erkennt Unregelmäßigkeiten in Oberflächen von Freiformteilen schon ab 10 Mikrometer und ist damit dem menschlichen Auge weit überlegen. Es hilft Herstellern, die hohe Qualität ihrer Produkte sicherzustellen und dabei Ressourcen und Geld zu sparen. Gerade bei Massenprodukten werden Fehler oft erst erkannt, wenn bereits hohe Stückzahlen produziert sind. Die visuelle Endprüfung ist in vielen Produktionsprozessen oft der einzige Schritt, der noch manuell und mit großem Aufwand durchgeführt wird. Diese Erfahrung machte auch die Seidel GmbH Co. aus Marburg, die neben AUDI, zu den Pilotanwendern des Systems gehört. Das Unternehmen fertigt Aluminium-Komponenten für die kosmetische und die pharmazeutische Industrie (Lippenstifthülsen, Kappen und Verschlüsse) sowie für Schreibgeräte und Autos. Die aufwendigen und trotzdem noch fehlerbehafteten visuellen Stichprobenkontrollen decken einen signifikanten Fehlerschlupf im Produktionsprozess auf. Der Systemeinsatz soll dazu beitragen, rechtzeitig Fehlerschlupf, Aufwand und Prüfkosten zu reduzieren.

Die tecmath AG koordiniert das Projekt und bringt langjährige Erfahrungen auf dem Gebiet der Scanner-Technologie in das Projekt ein. Sie entwickelt die Software für die Steuerung des Systems und für die Klassifikation von Oberflächendefekten. Weitere Forschungspartner sind die Steinbichler Optotechnik GmbH für die Sensorentwicklung (Neubeuern bei Rosenheim), das Fraunhofer Institut für Techno- und Wirtschaftsinformatik (ITWM, Kaiserslautern) für die Bildanalyse und die Fachhochschule Münster (Fachbereich Physikalische Technik, Steinfurt) für die Systemevaluierung. Die Projektträgerschaft liegt beim Forschungszentrum Karlsruhe.